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浙江大学学报(工学版)
J4  2004, Vol. 38 Issue (1): 93-97    
论文     
面向IP核测试复用的测试环设计
陆思安（浙江大学,超大规模集成电路设计研究所,浙江,杭州,310027）　
严晓浪（浙江大学,超大规模集成电路设计研究所,浙江,杭州,310027）　
李浩亮（浙江大学,超大规模集成电路设计研究所,浙江,杭州,310027）　
沈海斌（浙江大学,超大规模集成电路设计研究所,浙江,杭州,310027）　
何乐年（浙江大学,超大规模集成电路设计研究所,浙江,杭州,310027）　
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摘要：

提出了一种改进的测试环单元设计.它在传统的P1500测试环单元基础上添加一个多路器,实现了对测试环单元的功能数据路径测试,并解决了测试环扫描链在扫描移位过程中的安全移位问题,同时还可以降低扫描移位过程中产生的动态测试功耗;在分析了两种典型测试环P1500测试环以及飞利浦TestShell测试环的基础上,提出了一种三态测试环结构.该结构允许共用同一条测试总线的不同IP核直接连接到测试总线上.
出版日期: 2014-06-04
作者简介: 陆思安(1974-),男,安徽安庆人,博士,主要从事SOC测试结构方面研究.E-mail:lusa@vlsi.zju.edu.cn
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引用本文:

陆思安 严晓浪 李浩亮 沈海斌 何乐年. 面向IP核测试复用的测试环设计[J]. J4, 2004, 38(1): 93-97.

LIU Sai-An, YAN Xiao-Lang, LI Gao-Liang, CHEN Hai-Bin, HE Le-Nian. . J4, 2004, 38(1): 93-97.

链接本文:

https://www.zjujournals.com/eng/CN/    或    https://www.zjujournals.com/eng/CN/Y2004/V38/I1/93

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