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J4  2006, Vol. 40 Issue (5): 772-776    
论文     
CMOS电路泄漏功耗估算与降低方法研究
陈志强,吴晓波,严晓浪(浙江大学 超大规模集成电路设计研究所,浙江 杭州 310027)
 全文: PDF 
摘要:

为了减小深亚微米互补金属氧化物半导体(CMOS)电路待机模式下的泄漏功耗,须寻找使电路泄
漏功耗最低的最小泄漏向量(MLV).为此,提出了一种基于泄漏功耗库的线性规划功耗模型,并在此基
础上提出了基于改进的遗传算法搜索电路MLV的方法.线性规划模型根据电路泄漏功耗库中各个基本单元
的状态对应的泄漏功耗值,来估算整个门级电路的泄漏功耗.遗传算法利用线性规划模型作为评价函数,
通过对输入向量集进行自然选择、交叉、变异操作,搜索使电路泄漏功耗最低的MLV.仿真结果表明,搜
索到的MLV可以显著降低电路的泄漏功耗,而且易于实现,能够应用于超大规模集成电路泄漏功耗的估计
和降低.

关键词: 泄漏功耗估算最小泄漏向量遗传算法待机模式    
出版日期: 2006-05-25
基金资助:

国家自然科学基金资助项目(90207001).

作者简介: 陈志强(1974-),男,陕西富平人,博士生,从事超大规模集成电路低功耗设计研究. E -mail: chenzq@vlsi.zju.edu.cn
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陈志强
吴晓波
严晓浪

引用本文:

陈志强 吴晓波 严晓浪. CMOS电路泄漏功耗估算与降低方法研究[J]. J4, 2006, 40(5): 772-776.

CHEN Zhi-Jiang, TUN Xiao-Bei, YAN Xiao-Lang. . J4, 2006, 40(5): 772-776.

链接本文:

http://www.zjujournals.com/xueshu/eng/CN/        http://www.zjujournals.com/xueshu/eng/CN/Y2006/V40/I5/772

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