在环境应力作用下，航天电连接器的主要失效形式为接触失效，影响航天电连接器接触寿命的主要是环境温度和振动应力.失效物理分析结果表明，在环境温度和振动应力的综合作用下，航天电连接器的失效物理方程为广义Eyring模型.按照航天电连接器的系统可靠性模型，利用极值分布理论推导出航天电连接器的寿命服从两参数的Weibull分布.根据基于均匀正交试验理论设计的综合应力加速寿命试验方案，通过对试验数据的统计分析，求得了Y11X系列航天电连接器在环境温度和振动应力综合作用下的可靠性指标.
国家自然科学基金资助项目(50375142)；航天支撑技术基金资助项目(2003HTZJDX01)；高等学校重点实验室访问学者基金资助项目(GZKF-2003001)
陈文华 李红石 连文志 潘骏 卢献彪. 航天电连接器环境综合应力加速寿命试验与统计分析[J]. J4, 2006, 40(2): 348-351.
CHEN Wen-Hua, LI Gong-Dan, LIAN Wen-Zhi, BO Jun, LEI Xian-Biao. . J4, 2006, 40(2): 348-351.
http://www.zjujournals.com/xueshu/eng/CN/ 或 http://www.zjujournals.com/xueshu/eng/CN/Y2006/V40/I2/348
Cited
