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浙江大学学报(工学版)
J4  2007, Vol. 41 Issue (8): 1260-1264    
论文     
或-符合型通用逻辑门组合电路的故障检测
浙江大学 信息与电子工程学系, 浙江 杭州 310028
 全文: PDF 
摘要：

针对或-符合型三变量通用逻辑门组合电路，提出了一种基于布尔差分的故障检测方法.引入了或-符合代数中的布尔差分定义和运算性质，给出了在该组合电路中计算布尔差分的链式算法以及故障压缩定理.在此基础上，得到了电路单固定故障及双固定故障的检测方法.结果表明，在或-符合代数中布尔差分的计算较为简便，链式算法能有效地求得电路输出对全部原始及内部输入线的布尔差分，从而使得用布尔差分法对该组合电路进行故障检测具有简单、直捷的特点.并且用或-符合型三变量通用逻辑门实现函数连线数相对较少，因此在数字设计中使用这种逻辑门有利于故障检测.
关键词： 通用逻辑门;  或-符合展开;  布尔差分;  故障检测    
出版日期: 2007-08-07
通讯作者: 陈偕雄，男，教授，博导．E-mail: chenxiex@mail.hz.zj.cn   
作者简介: 潘张鑫(1978-)，男，浙江绍兴人，博士生，主要从事数字电子学研究．E-mail: yifanpan@126.com
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潘张鑫
陈偕雄

引用本文:

潘张鑫 陈偕雄. 或-符合型通用逻辑门组合电路的故障检测[J]. J4, 2007, 41(8): 1260-1264.

BO Zhang-Xin, CHEN Xie-Xiong. . J4, 2007, 41(8): 1260-1264.

链接本文:

http://www.zjujournals.com/xueshu/eng/CN/    或    http://www.zjujournals.com/xueshu/eng/CN/Y2007/V41/I8/1260

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