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J4  2009, Vol. 43 Issue (3): 555-558    
论文     
Al2O3与LaF3薄膜在紫外波段的特性研究
浙江大学 现代光学仪器国家重点实验室,浙江 杭州 310027
 全文: PDF(944 KB)   HTML
摘要:

用电子束蒸发方法制造了Al2O3、LaF3单层膜,对比研究了沉积速率和基板温度对薄膜紫外(193 nm)光学特性、微结构的影响.实验结果表明,LaF3在紫外波段的光学损耗明显小于Al2O3.AFM测试发现,在相同的工艺条件下,Al2O3表面粗糙度大于LaF3,且3薄膜表面粗糙度随基板温度增加而增加.Al2O3薄膜在紫外波段的光学特性严重依赖于沉积速率等制备条件,而沉积速率对3薄膜特性的影响不明显,即使是在5 nm/s的速率条件下,LaF3仍具有良好的光学特性.X射线衍射(XRD)测试发现,电子束蒸发制备的Al2O3薄膜为非晶态,LaF3薄膜有结晶现象.

出版日期: 2009-07-09
基金资助:

国家自然科学基金资助项目(60778025).

通讯作者: 章岳光,男,副研究员     E-mail: zhangyueguang@zju.edu.cn
作者简介: 蔡文浪(1982-),男,广东梅州人,硕士生,从事紫外薄膜研究.
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引用本文:

蔡文浪 章岳光 刘旭 王颖. Al2O3与LaF3薄膜在紫外波段的特性研究[J]. J4, 2009, 43(3): 555-558.

CA Wen-Lang, ZHANG Yue-Guang, LIU Xu, WANG Ying. . J4, 2009, 43(3): 555-558.

链接本文:

http://www.zjujournals.com/eng/CN/        http://www.zjujournals.com/eng/CN/Y2009/V43/I3/555

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