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浙江大学学报（理学版）
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电子电路学     
产生区宽度模型与产生寿命的确定
The Model for Generation Region Width}andDetermination of Generation Lifetime
 全文: PDF(218 KB)  
摘要： 本文建议了一种由两个不同电压扫描率下的饱和电容值确定产生寿命的实验方法。C}7于这一实验方法只涉及不同电压扫描率下产生区宽度之差，因此无论使用Fierret的改进的产生区宽度模型或是使用简单的Zerbst模型都将给出同样的产生寿命值。实验结果表明，对于同一个MOS电容器样品，从不同电压扫描率组合得到的产生寿命值基本一致.
出版日期: 2018-02-28
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张秀森

引用本文:

张秀森. 产生区宽度模型与产生寿命的确定[J]. 浙江大学学报（理学版）, .

Zhang Xiumiao. The Model for Generation Region Width}andDetermination of Generation Lifetime. Journal of Zhejiang University (Science Edition), .

链接本文:

https://www.zjujournals.com/sci/CN/    或    https://www.zjujournals.com/sci/CN/Y1993/V20/I4/425

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