基于改进YOLOv5s网络的绝缘子缺陷检测

李运堂,张坤,李恒杰,朱文凯,金杰,章聪,王冰清,OPPONGFrancis

Insulator defect detection based on improved YOLOv5s network

Yuntang LI,Kun ZHANG,Hengjie LI,Wenkai ZHU,Jie JIN,Cong ZHANG,Bingqing WANG,Francis OPPONG

表 6 消融对比实验结果

Tab.6 Results of ablation comparative experiment

网络 P/% R/% AP/% mAP/% FPS/ (帧·s−1) 正常 绝缘子 缺陷 绝缘子 破损 缺陷 闪络 缺陷 常规 YOLOv5s 88.1 81.2 95.9 94.7 87.1 66.7 86.1 64.1 方法 1 88.3 81.6 96.2 95.0 87.3 67.1 86.4 64.1 方法 2 89.4 82.5 96.3 95.1 88.6 69.2 87.3 62.5 方法3 89.8 83.1 96.7 95.7 90.4 70.4 88.3 61.1 方法 4 90.2 83.4 96.9 95.8 91.2 70.5 88.6 69.4