引用本文:

张秀森，贺国根，张雷平，朱世峰. 用MOS 结构同时测定少子复合寿命和产生寿命[J]. 浙江大学学报（理学版）, 1987, 14(2): 182-188.

链接本文:

http://www.zjujournals.com/sci/CN/Y1987/V14/I2/182